濟南總部
地址:濟南市天橋區梓東大道299號鑫茂齊魯科技城
銷售熱線:400-011-9697
電話:0531-61388337 13082756871(王)
傳真:0531-88965580
郵箱:jnnktyq@163.com
納米粒度分析儀是最簡單和最廣泛使用和廣泛使用的粒度測定方法。篩分法不僅可以確定粒度分布,還可以獲得50%的累積屈服系數。平均粒徑。篩分方法是將粉末樣品通過一系列不同篩子的標準篩,將其分成幾個顆粒,分別稱重,得到以質量百分比表示的粒度分布。篩分分析方法適用于約20μm至100mm之間的...
2018-09-12
查看詳情由于粉體材料顆粒的形狀不可能都是均勻球形的,納米粒度儀有各種各樣的結構,因此,在大多數情況下粒度分析儀所測的粒徑是一種等效意義上的粒徑,和實際的顆粒大小分布會有一定的差異,因此只具有相對比較的意義。等效粒徑(D)和顆粒體積(V)的關系可以用表達式D=1.24V1/3表示。此外,各種不同...
2018-09-11
查看詳情通過氦氣中的脈沖激光燒蝕制造超細金和納米粒度儀,并且通過采用低壓差分遷移率分析儀(LP-DMA)的靜電尺寸選擇技術選擇性地分選直徑為2-15nm的NP。在NP的分類中,產生了幾個金NP或雙電荷NP的鏈以及單電荷球形NP。使用LP-DMA進行形態選擇,使用這樣的關系,其中球形NP鏈的橫截面由直徑和長度的乘積控制...
2018-09-10
查看詳情國際上普遍采用的先進方法是:用納米粒度儀對自由基聚合法制備pei-pmma陽離子納米粒,掃描電鏡觀察粒子形態,zeta粒度儀測定粒徑﹑表面電荷,凝膠電泳阻滯分析載基因能力和激光共焦掃描顯微鏡觀察納米粒介導的細胞內基因轉移情況。結果pei-pmma納米粒呈單分散球形,平均粒徑為172nm,zeta電位為+50.3m...
2018-09-07
查看詳情通過X射線衍射(XRD),納米粒度儀(PSA),掃描電子顯微鏡(SEM)和UV-可見分光光度計表征合成的產物。 XRD圖譜證實了合成樣品的四方結構。使用Debye-Scherrer公式從X射線譜展寬確定合成的納米顆粒的平均微晶尺寸。隨著煅燒溫度從300℃升高到800℃,微晶尺寸在8到33nm之間變化。與未摻雜的TiO 2相比,摻入...
2018-09-06
查看詳情我們開發并應用了納米粒度儀數據反演程序,二維分布函數以每單位粒子質量的每單位遷移率直徑的粒子數濃度為單位表示。它可用于直接計算基于數量的尺寸分布(通常使用DMA測量確定)或基于質量的尺寸分布(通常從沖擊器測量推斷)。反演程序利用Twomey-Markowski算法,以確定來自串聯差分遷移率分析...
2018-09-04
查看詳情基于夫瑯和費衍射理論的激光粒度分析儀具有在寬范圍內實時測量粒度分布的優點。但是,分散的顆粒數濃度不能在市售的分析儀中顯示。山東耐克特激光儀研發中心通過考慮設定檢測器的測量電壓相對于衍射光強度的特性,研究了具有對數正態分布的具有各種形狀的不同顆粒的測量分散顆粒數濃度的方法...
2018-09-03
查看詳情儀器用激光做光源,當光為波長一定的單色光時,納米粒度儀的衍射和散射的光能的空間(角度)分布就只與粒徑有關.對顆粒群的衍射,各顆粒級的多少決定著對應各特定角處獲得的光能量的大小,各特定角光能量在總光能量中的比例,應反映著各顆粒級的分布豐度.按照這一思路可建立表征粒度級豐度...
2018-08-31
查看詳情粒度分析儀(PSA),掃描電子顯微鏡(SEM)和UV-可見分光光度計表征合成的產物。 XRD圖譜證實了合成樣品的四方結構。使用Debye-Scherrer公式從X射線譜展寬確定合成的納米顆粒的平均微晶尺寸。隨著煅燒溫度從300℃升高到800℃,微晶尺寸在8到33nm之間變化通過溶膠凝膠法合成未摻雜和摻雜銀的TiO 2納米顆粒(...
2018-08-30
查看詳情通過硅烷偶聯劑與Fe3O4磁性納米粒子偶合在納米粒度儀表面引入C=C端基,進一步與N-乙烯基吡咯烷酮(NVP)加成聚合制備含端羥基PVP包裹的磁體,再引發丙交酯(LA)開環聚合制得PVP-b-PLA修飾的Fe3O4納米粒子.通過XRD、GPC、FTIR、SEM、TG、DSC和激光粒度儀等,對產物進行分析和表征,結果表明,納米Fe3O4與PVP以及...
2018-08-29
查看詳情